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什么是电子产品老化考试?

Writer: admin Time:2022-02-09 Browse:125

  当您谋划坐蓐任何新产物,您可能会为您的新产物盘?算一系列?试验。这些实?行平凡侧浸于效果性,应付高速/高频标志产?物,还偏。重于信号“/电源!齐备性。您可以盘盘算算让您的产物正在极短时间内内运转,何况您需要少许信得过的数据来;为产“物的“愚弄寿命装置下限。

  除了正在线试验、成效试验和可以的刻板实验?除外,组件以及;试验板自己?也可能从老化检验中受益。假设您估量大鸿沟、坐蓐,最很众数目之前;执行这项实验。

  正在老化、测试功夫,特地老化:电途板上的组件”会担当等于。或高于其额定职、责条款的压。力,以废除正在额定寿命之前过早失效的任何组件。这些检验条款蕴涵温度、电压,/电流、应用频率或任何其他们被指定为上限的试验恳求。这些榜样的压力实行不常被称为加快寿命试验(HALT/HASS 的一个子集),来因它们仿:制组件长技能正在万分恳?求?下的运转。

  这些牢靠性实验的方针是搜求阔绰的数据以造成浴盆弧线(示比喻下所示)。定名的“短折率”局限包括因为筑制缝隙导!致的早期组件禁?止。这些实行平淡,正在 125 °C 下实行,这正值是高信得过;性半导体的一个条款,(方今最高再有220℃的实行条款)。该试验或许正在万般温度下举办,同时电气脾;气运、转,以博得产。物牢靠性的,一概:数据。

  可能行使原型板正在 125 °C 或高于预期基板质地的;玻璃化转化温度下实行老化试验和处境压力测试。这将供应相合电途板拙笨应力波折的少许特殊数据以及有合组件”波折的数据。老化检验搜罗两种分别榜样的检“验:

  静态老化涉及清白地向每个组件施加止境、温度和电压,而不施加输入标识。这是一个,纯朴、低血本、加快的寿;命实行。探头只需“要进:入境遇室,境遇室就。会升温,创办就会:来到:所需的”施加电、压。这种范,例的实行”最合合用作仿摄影当温度下保,管的热试验。正在检验本事施加静态电压不会激活开办中的扫数节点,于是它无法满堂理解组件的牢靠性。这种合用于大领域产物老化检验,也是守旧老化实验座用道的归宿。

  这种榜样的试验涉及正在老化板宣泄正在万分温度和电压下时向每“个组件施加输入信号。这供应了更周全的组“件可靠性视?图,源由可以评估 IC、 中的内中电途的信得过性。可以正在消息测试技能监控输出,从而准确;经验电道板上的哪些点最容易爆发滞碍。

  任何导致滞碍的老化检验都需要实行彻底检验。正在原型板的压力测试中加倍云云。这些检验正在功夫和质料“方面可以既耗时又吝啬,但它?们应付最大把握地伸长产物的愚弄寿命和验证您的联念挑选至合告急。这些试验,远、远越过了正在线试验和造诣试验,由于它们将新产物”推向了临界点。

  讯息检验对IC实行座的、恳求高,陆续转化的负载和信号条款,以及极限上下温段短!才能的切换,对试验座应对强滞碍,带来?了更高的?条。件。

  老;化实行。并不是出格指原型板的压力检验——这闲居被定名为 HALT/HASS。老化检验以及其十足人状况/压力试验可;能戳穿板级和组件级滞碍。这些实行可能准确地正在榜样或高于指定的控制条件下实行。

  极少电途板安排职员可能不肯把握胜过组件规格或越过电途板/组件预期职分“条件的老化检验和其我压力实行的本相。这背后的逻辑是,板子和/或组件正在其预期状况中安置时万世不会看到此类行使条件,以是实行原形势必无效。这无视了超规格的老化试验和凡是压力实验的重心。

  运转这些超越规格的实行或许定位更众的阻挠点。连结运转众个试验可能让您瓦解这些阻碍点是奈何跟着时间的推移而展示的,从而更好地经验信得过性。越过规格运”转只会为您的产物寿命供应更大的加快,并让您更深入。地瓦解浴缸弧线。

  板、级其余实验对实行座提出的条;款,怂恿实验始末中,孑立针对单颗芯片举办温控实行,芯片正在板级的实行时,其全数人元!器件与”苛重测试芯片的应对条款折柳,以是需要独立对紧要芯片测试,这就须“要孤”单温控的。芯片试验座。

  若“是您可能解决正在超规格实验身手察觉的任为何障点,您就或许假使您可以管制正在超规格实验时期发现的任缘何障点,您就或许昭彰延迟制品板的行,使寿命。 若是您可能侦察安排软件中的供应链数据,则可能懈弛地东西有更长额定寿命的步地更换品变卦”组!件。 周全这些步骤对延迟制品的诈欺寿命大有增援。

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